Каталог товаров
Заказать звонок
Артикул: Olympus MX51

Olympus MX51

Инспекционный микроскоп Olympus MX51 — механический инспекционный микроскоп для микроэлектроники со специальным столом для кремниевых пластин или фотошаблонов. Работа в проходящем и отраженном свете, поляризация и DIC. Мощный галогенный источник света, латеральное разрешение до 0,3 мкм.

Уточнить стоимость Протестировать

Описание

Olympus MX51 — инспекционный микроскоп для микроэлектроники

Инспекционный микроскоп Olympus MX51 — механический инспекционный микроскоп для микроэлектроники со специальным столом для кремниевых пластин или фотошаблонов. Работа в проходящем и отраженном свете, поляризация и DIC.

  • Отраженный свет, светлое/темное поле, ДИК и поляризация
  • Проходящий свет и флуоресценция
  • Тубус и окуляры с полем до FN26,5
  • Источник света – галогенная лампа 100Вт. Разрешение микроскопа до 0,3 мкм по XY
  • Объективы: поддерживает любые объективы из каталога Olympus UIS2.
    В базовой конфигурации 5х, 10х, 20х, 50х, 100х. Доступен объектив 150х NA 0.9
  • Револьверное устройство от пяти позиций, опционально моторизованные компоненты.
  • Стол микроскопа с держателем кремниевых пластин до 8″

Микроскоп создан для работы с кремниевыми пластинами и фотошаблонами.
От стандартного прямого микроскопа для материаловедения его отличают:

  • Увеличенный предметный стол
  • Повышенная жесткость штатива
  • Мощный источник отраженного света
  • Программное обеспечение для проведения измерений

Инспекционный микроскоп Olympus MX51 — максимум возможностей при ограниченном бюджете

Компания Olympus предлагает линейку инспекционных микроскопов серии MX, созданных для работы с кремниевыми пластинами и фотошаблонами. Рассмотрим основные отличия инспекционного микроскопа для микроэлектроники Olympus MX51 от стандартного прямого микроскопа для материаловедения (к примеру, Olympus BX51).

olympus mx51

  • Увеличенный предметный стол со специальным держателем для кремниевых пластин или фотошаблонов.
    При работе с кремниевыми пластинами очень важно иметь возможность осуществлять быстрые перемещения по образцу в поисках необходимого кристалла. Микроскоп Olympus MX51 оборудован столом со специальным приводом быстрого ручного перемещения, а также держателем для кремниевых пластин до 8″.
  • Повышенная жесткость штатива.
    Инспекционный микроскоп Olympus MX51 позволяет изучать кремниевые пластины диаметром до 200мм, при этом штатив микроскопа обладает большим консольным вылетом для обеспечения доступа к крайним кристаллам на пластине. Повышенная жесткость штатива нивелирует большой консольный вылет опоры тубуса, так как при работе с объективами 50, 100 и 150х важно обеспечить неподвижность оптической системы относительно объекта исследования.
  • Мощный источник отраженного света.
    При работе с кремниевыми пластинами часто возникает необходимость работы в темном поле и поляризации. Для этих методик контрастирования необходим мощный источник отраженного света. В данном случае, микроскоп Olympus MX51 оборудован галогенным источником света мощностью 100Вт.
  • Программное обеспечение для проведения измерений.
    Инспекционный микроскоп в одинаковой степени является как устройством визуального контроля так и измерительной станцией. Программное обеспечение Olympus Stream Start позволяет проводить измерения, анализировать, редактировать и сохранять изображения с цифровой камеры. Это очень эффективное и относительно недорогое решение для проведения контроля и измерения в диапазоне от десятых долей микрона до десятых долей миллиметра.

Микроскоп Olympus MX51 c латеральным разрешение 300нм – оптический предел микроскопии видимого света

Микроскоп Olympus МX51 имеет возможность установки объективов серии MPLFLN-BD. Эти объективы предназначены для работы в темном и светлом поле, флуоресценции, поляризации и дифференциально-интерференционном контрасте.
Объектив MPLFLN150xBD – высокоразрешающий объектив с увеличением 150х, числовой апертурой NA0,9 и рабочим расстоянием 1 мм позволяет достичь поля зрения FN26.5 (при использовании соответствующего тубуса и окуляров). Прекрасный выбор для продуктивного анализа кремниевых пластин с топологией менее 5 мкм.

Аксессуары и дополнительное оборудование

Микроскопы Olympus серии MX51/MX61 имеют ряд аксессуаров для достижения максимального комфорта работы. Среди них держатели кремниевых пластин, и прозрачные столы для фотошаблонов, позволяющие контролировать положение образца во время исследования и снижающие риск повреждения образца при работе на микроскопе.

mx 51stages

1 – Стеклянная вставка в стол для работы с фотошаблонами; 2 – металлический столик для работы с непрозрачными образцами; 3 – опорный подшипник для установки площадок 7-9; 4 – компактный стол U-SIC4R2/L2; 5 – металлическая плита для стола U-SIC4; 6 – опорный подшипник для стола U-SIC4; 7 – держатель кремниевых пластин 3”-4”; 8 – держатель кремниевых пластин 4”-5”; 9 – держатель кремниевых пластин 5”-6”;

Подключите камеру

Подключите к микроскопу цифровую камеру, например, ADF PRO20. Получайте высококачественные изображения, проводите измерения, экспортируйте результаты измерений в электронную таблицу.

Характеристики

Модель Инспекционный микроскоп для микроэлектроники Olympus MX51
Оптическая система Оптическая система UIS2 (Универсальная система, с коррекцией на бесконечность)
Освещение Отраженный свет. Галогенная лампа: 12В 100Вт
100–120 В/22O–240 В ~ 0,85/0,45 А, 50/60 Гц
Опционально проходящий свет.
Фокусировка Механическая, с помощью коаксиального винта фокусировки
Диапазон полного хода: 25 мм
Стопорный винт механизма фокусировки
Винт фокусировки расположен по обеим сторонам микроскопа
Настройка услия на винте грубой фокусировки
Револьвер Моторизованные либо механические револьверы на 5-7 позиций.
Тубусы U-BI30-2 бинокулярный, U-TR30-2 широкопольный тринокуляр, U-ETR3 широкопольный тринокуляр прямого изображения (F.N. 22)U-SWTR суперширокопольный тринокуляр, MX-SWETTR суперширокопольный наклонный эргономический тринокуляр  (F.N. 26.5)
Предметный стол U-SIC4R2/SIC4L2 компактный стол 4″ х 4″, управление слева либо справа.MX-SIC6R2 стол 6″ х 6″, коаксиальное управление и механизм быстрого перемещения.
Механизм перемещения: ременный привод.
Диапазон перемещения: 158(X) x 158 (Y) мм
Размер металлической платформы 200 х 200 мм
Зона проходящего света: 100 х 100 мм
Размеры и вес 430 (ширина) X 591 (глубина) X 495 (высота) мм. Вес: 26 кг (вес штатива 11 кг)

Документы для

Подберем лабораторное оборудование для работы
Подберем лабораторное оборудование для работы
Закажите лабораторное оборудование указав контактные данные и мы с вами свяжемся в ближайшее время.

Этот сайт использует cookies.