Цифровой микроскоп с автофокусировкой ADF F20

Описание

ADF F20 — универсальный цифровой микроскоп с автофокусировкой.

Точный, качественный и быстрый визуальный контроль.

Микроскоп обладает встроенным программным обеспечением и не требует подключения к компьютеру. Для его работы достаточно только монитора. Встроенная программа позволяет сохранять изображения на USB флешку, проводить измерения, создавать аннотации и текстовые области прямо на изображении. Доступен режим сравнения двух изображений. Максимальное увеличение микроскопа до 400 крат при использовании монитора с большой диагональю.

Освещение для решения любых задач

Микроскоп обладает кольцевым источником света, яркость которого регулируется непосредственно из программного обеспечения микроскопа. Светодиодный кольцевой источник дает равномерное освещение без теней и бликов. Очень удобен в ОТК и при визуальном контроле дефектов. Если его недостаточно, можно установить дополнительный источник с гусиными шеями, реализующий косопадающую методику освещения для просмотра скрытых от наблюдения участков, теней, трещин и изломов.

Образец после испытаний, кольцевое освещение Кольцевой бестеневой осветитель позволяет передать форму и визуальный вид дефектов поверхности, дает отличное представлении о цветах побежалости материала, оксидных пленках на поверхности образца. При кольцевом освещении даже теневые области прорабатываются светом. Контраст средний, детализация очень высокая.	Образец после испытаний, наклонное освещение Наклонное освещение позволяет показать все микронеровности и дефекты поверхности, не видимые в бестеневом равномерном свете. Иногда это очень важно. В косопадающем освещении визуализируются микротрещины, царапины. Контрастность максимальная, а вариативность освещения с разных сторон позволяет настроить свет под любые задачи.

Увидеть все в мельчайших подробностях — зум диапазон 6,47 : 1

Микроскоп обладает внушительным зум диапазоном и позволяет изучить как общую картину объекта, так и мельчайшие детали. Это особенно актуально в исследовании порошков, минералов, а также трещин и изломов в материаловедческих исследованиях. Большое увеличение позволяет изучить каждый объект или мельчайшие подробности разрушения, а небольшое увеличение даст широкое поле зрения для оценки образца в макрорежиме.

Морской песок. Увеличение 30 крат на мониторе 24”. Отраженный бестеневой свет	Морской песок. Центральная область левого кадра. Увеличение 180 крат.

Задач много, инструмент один — ADF F20

Цифровой микроскоп ADF F20 позволяет проводить работы по направлениям высокоточного производства, ракетно-космической промышленности, микроэлектроники, научно исследовательского сектора и реставрационных мастерских. Большое рабочее расстояние 100 мм, высокое разрешение и отличное освещение позволяет отлично визуализировать образцы из различных областей применения.

Радиатор теплообменника. Трещины и излом.	Пластиковая деталь. Контроль поверхности изделия после литья под давлением.
Контроль износа и истирания контактных площадок при испытаниях	Визуальный контроль печатной платы на микроэлектронном производстве

	Печатная плата на разных увеличениях