Каталог товаров
Заказать звонок
Артикул: Olympus GX53

Olympus GX53

Инвертированный металлографический микроскоп Olympus GX53 для работы в отраженном свете. Светлое поле, темное поле, ДИК контраст, а также поляризация.
Исследование металлографических шлифов, работа в центральной заводской лаборатории,

Работа по ГОСТам в составе программно-аппаратного измерительного комплекса с камерой.

Уточнить стоимость Протестировать

Описание

Исследовательский микроскоп Olympus GX53

Инвертированный исследовательский микроскоп Olympus GX53, предназначен для материаловедческих исследований в отраженном свете. Полностью универсальная система со всеми функциями металлографии по методикам светлого поля, темного поля, дифференциально-интерференционного контраста и поляризации.

  • Модульная конструкция.
  • Работа в отраженном свете
  • Методики контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, ДИК
  • Возможна установка промежуточного модуля увеличения (2х), моторизированного револьвера объективов и фильтров
  • Высококачественная UIS оптика
  • Увеличение от 12,5х до 1500х
  • Наклонный и поворотный бинокулярный тубус
  • Встроенный видео/фото порт, возможность подключения фотокамеры
  • Исследование образцов весом до 5 кг.

Инвертируемый металлургический микроскоп Olympus GX53 позволяет проводить исследования в режимах светлого поля, темного поля, Дифференциально-интерференционного контраста Номарского и простом поляризованном свете. Переключение между светлым/темным полем производится путем переключения удобно расположенного слайдера. При работе с ДИК необходимо вставить слайдер Номарского в отведенный для него порт (один универсальный слайдер работает со всеми объективами).

Широкое разнообразие дополнительных модулей легко подсоединяемых к GX53, позволяют конструировать систему исходя из задач пользователей: соединение с цифровой фото или видеокамерой через промежуточный тубус (GX-SPU). Так как микроскоп GX53 разработан для длительных исследований, дизайн микроскопа полностью отвечает требованиям максимального удобства для оператора.

Микроскопы серии GX являются эргономичными, надежными инвертированными микроскопами, специально сконструированными для выполнения всех контрольно-измерительных задач в материаловедении и решения задач испытаний материалов в целом, для входного контроля образцов, контроля готовой продукции, выборочной проверки в технологическом процессе.

Все микроскопы серии GX – модульной конструкции, которая позволяет пользователю легко скомбинировать модификацию, необходимую для решения стоящих перед ним задач. Превосходная технологичность и эргономика микроскопов GX дарит пользователю не только повышенную точность и достоверность результатов исследования, но также комфорт работы и управления системой. Все органы управления, в том числе полевая (FS) и апертурная (AS) диафрагмы, фокусировка и регулировка освещения сбалансированы и находятся под рукой у пользователя.

Olympus GX53 – методики контрастирования

Микроскоп Olympus GX53 позволяет проводить исследования металлографических шлифов, а также шлифов композитных материалов. Проводить оценочные измерения балла зерна сталей, поиск неметаллических включений, изучение упрочненного слоя, анализ графита в чугуне и пр. Поддерживаются следующие методики контрастирования:

  • Светлое поле. Изучение освещенного объекта в отраженном свете. Анализ зерен материалов, изучение неметаллических включений;
  • Темное поле. Освещение объекта косопадающим светом вокруг исследуемой области. Любые дефекты поверхности, царапины и микронеровности становятся детально различимы;
  • Простая поляризация. Изучение объектов в скрещенных николях (поляризатор и вращаемый анализатор). Поиск оптически активных объектов на шлифах, загрязнений, полимеров и пр;
  • ДИК (Дифференциально-интерференционный контраст). Методика контрастирования, применяющаяся для анализа микрорельефа поверхности и подчеркивания границ зерен и структур материала.

Микроскоп оборудованный опциональной системой MIX позволяет демонстрировать в окуляре комбинацию методик контрастирования (светлое поле + темное поле) получая композицию из четко проработанной светлопольной картинки и резких границ микронеровностей видимых только в темном поле.

a1 400x269 1

Шлиф силумина (AlSi). Светлое поле BF и темное поле DF. Светлое поле используется для получения общей информации о структуре объекта, а темное поле показывает мельчайшие дефекты, царапины и микронеровности, невидимые глазом в светлом поле.

a2 400x269 1

Чугун с шаровидным графитом. DIC – дифференциально-интерференционный контраст – это методика наблюдения, при которой рельеф поверхности невидимый в светлом поле начинает играть красками и походить на трехмерное изображение объекта. Это идеальный метод для исследования объектов с неоднородной топографией, включая металлографические структуры и минералы.

a3 400x269 1

Алюминиевый сплав. Поляризационная микроскопия позволяет визуализировать текстуру материала и кристаллическую форму максимально контрастно. Поляризация широко применима для изучения металлографических структур, таких как чугун, паттерны с ростом графита и минералы.

a4 400x269 1

Микроэлектронный компонент – поперечный шлиф. MIX режим, т.е. комбинация светлого и темного поля позволят наблюдать цвет и структуру объекта. Такой метод наблюдения позволяет очень четко воспроизвести цвет и структуру изделия, как и качество прилегания металлизированных и полимерных слоев.

Подключите камеру

Подключите к микроскопу цифровую камеру, например, ADF PRO20. Получайте высококачественные изображения, проводите измерения, экспортируйте результаты измерений в электронную таблицу.

Характеристики

Модель Olympus GX53
Оптическая система Скорректирована на бесконечность. Поддержка оптики UIS2
Освещение отраженного света Ручное переключение светлое/темное поле при помощи зеркального модуля
Ручная регулировка апертурной и полевой диафрагмы.
Источник света: белый светодиодный источник света (с менеджером света), 12В 100Вт галогенная лампа, 100Вт ртутная лампа или осветитель с гибким световодом.
Методики наблюдения: Светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, МIX освещение (комбинация светлого и темного поля) – опция.
Осветитель проходящего света (опция) Колонна проходящего света IX2-ILL100 с полевой диафрагмой.
Конденсор с апертурой NA 0,6, WD 12 мм с апертурной диафрагмой.
Источник света – светодиодный источник света или 12В 100Вт галогенная лампа. Светлое поле и простая поляризация доступны.
Фокусировка Рукоятки грубой и точной настройки, полный ход: 9 мм, шаг точной фокусировки: 1 мкм
Стопор верхнего положения фокусировки, а также регулировка усилия на винте грубой фокусировки.
Наблюдательный тубус
Широкопольный бинокуляр или тринокуляр FN 22, а также наклонный тубус с переменным углом наклона окулярных трубок (U-TBI90) FN 22
Револьверная головка Механическая или кодированная от 4 до 7 гнезд, для светлого или темного поля.
Предметный стол XY Коаксиального управления, прямоугольный или круглый столик
Перемещение 50х50 мм, максимальная нагрузка 5 кг. Набор каплевидных вставок в стол.
Методы наблюдения Светлое и темное поле, поляризация, DIC
Объективы Универсальные для всех методов наблюдения скорректированные на бесконечность объективы от 1,25х до 150х, включа план-ахроматы, план-флуориты и план-апохроматы.
Дополнительное оборудование Возможность установки цифровой камеры через боковой, фронтальный адаптер или через тринокулярный тубус.
Подберем лабораторное оборудование для работы
Подберем лабораторное оборудование для работы
Закажите лабораторное оборудование указав контактные данные и мы с вами свяжемся в ближайшее время.

Этот сайт использует cookies.