Каталог товаров
Заказать звонок
Каталог
Артикул: Coxem EM-30

ADF XY Stage

Столик ADF XY Stage с возможностью работы в проходящем или отраженном свете. С нониусной шкалой, с возможностью перемещения образца и точного позиционирования объекта в поле зрения прибора. С программным обеспечением ADF Image Capture и камерой ADF серии PRO незаменимый аксессуар для качественной сшивки полей зрения на микроскопе.

от 5 700 000 
Уточнить стоимость Протестировать

Описание

Coxem EM-30 — настольный сканирующий микроскоп.

Микроскоп позволяет работать с токопроводящими и токонепроводящими биологическими и материаловедческими образцами. При работе с токонепроводящими материалами необходимо использовать систему вакуумного напыления или крио заморозки, которые могут быть поставлены вместе с прибором. Микроскоп обладает моторизованным XY столом, позволяющим проводить точное позиционирование образца под электронной пушкой, а также удобным интерфейсом пользователя для работы в различных режимах сканирования.

Микроскоп позволяет получить эффективное увеличение до 50 000 крат, обладает детектором вторичных электронов (SE), опционально: детектором обратно рассеянных электронов (BSE) и Энерго дисперсионной спектроскопией (ЭДС — Xray), демонстрирующей элементный анализ.

Coxem EM-30. Детектор вторичных электронов SE

Детектор вторичных электронов позволяет проводить детальное и высокоразрешающее исследование топографии поверхности, демонстрирующее форму с высочайшей глубиной резкости и высоким качеством изображения. Плавная регулировка ускоряющего напряжения от 5 до 30кВ с шагом в 1 кВ позволяет настроить микроскоп по уровню максимального разрешения.

 

Coxem EM30 сканирующий электронный микроскоп

Перегоревшая вольфрамовая нить лампы накаливания. 1000 кратное увеличени.

 

Сканирующий электронный микроскоп Coxem EM30

Сварочный порошок. Увеличение 310х слева и 2000 крат справа. Детектор вторичных электронов.

Детектор обратно рассеянных электронов BSE

Детектор BSE необходим для повышения контраста между материалами различной природы или плотности. Детектор будет полезным решением при работе с композиционными материалами, повышая контраст отдельных зерен или объектов. Микроскоп Coxem EM30 позволяет проводить работы в COMPO режиме и в TOPO режиме, а также в демонстрации наложенного изображения SE и BSE детектора (SE + BSE COMPO, SE + BSE TOPO).

 

Coxem EM30 - SE BSE TOPO

Крыло комнатной мухи. Напыление золотом. Сравнение SE и BSE-TOPO режимов. Увеличение 200 крат.

 

Протестируйте микроскоп Coxem EM30 в нашем демозале

Электронный микроскоп Coxem EM30 размещен в демонстрационном зале компании Д-микро. Вы можете изучить свои образцы, протестировать прибор, получить результаты исследования. Для записи на демонстрацию позвоните нам по телефону +7 495 7411153 или напишите по электронной почте info@dmicro.ru

Микроскоп Coxem EM30 в демонстрационном зале ООО "Д-микро"

Характеристики

Увеличение От 20 крат до 150 000 крат в режиме электронно-оптического зума
Детекторы SE, BSE (четырех сегментный, режим Topo, Compo)
Электронная пушка Термоэмиссионная
Ускоряющее напряжение Регулируемое от 1 до 30кВ с шагом в 1кВ
Источник электронов Вольфрамовый катод
Моторизация по трем осям Перемещение объекта — 35 мм по оси X, 35 мм по оси Y, 0-45 градусов (T)
Режим низкого вакуума Опция
EDS Опция
Система напыления Опция
Максимальный размер образца Диаметр 60 мм.
Подберем лабораторное оборудование для работы
Подберем лабораторное оборудование для работы
Закажите лабораторное оборудование указав контактные данные и мы с вами свяжемся в ближайшее время.

Этот сайт использует cookies.