Каталог товаров
Заказать звонок
Каталог
ADF XY Stage, D-micro

ADF XY Stage

При разварке проволоки между корпусом и контактными площадками кристалла требуется визуальный контроль. Обычно при этом используется металлографический микроскоп с увеличением до 200-500 крат и объективы с увеличенным рабочим расстоянием. Увеличенное рабочие расстояние очень важно, так как при использовании стандартных микроскопных объективов возникает возможность касания корпусом объектива корпуса изучаемого изделия. Особенно, если кристалл находится в сборке со смонтированными компонентами, как конденсаторы или различные SMD устройства.

razvarka 1
Визуальный контроль сварного соединения на кристалле в корпусе. Инспекционый микроскоп ADF W300, увеличение 200 крат. Использовался объектив с увеличенным рабочим расстоянием 30 мм.

Микроскоп можно оборудовать XY столом для точного перемещения изделий под микроскопом, либо перемещать изделия вручную, установив микроскоп на компактный штатив, показанный на фотографии ниже. В случае использования объективов с увеличенным рабочим расстоянием, можно добавить к конфигурации микроскопа осветитель типа «Гусиные шеи» для подсветки соединений со всех сторон и максимальной детализации объектов.

w300 1
ADF W300 — версия установки на компактном штативе без XY стола. Система подходит для визуального контроля кристаллов в гельпахах, корпусах и различных кассетах.

Для потокового контроля разварки проволоки, визуального контроля кристаллов, смонтированных в корпус применяется микроскоп ADF W300. Этот инспекционный микроскоп можно оснастить объективами с увеличенным рабочим отрезком вплоть до 30 мм. Таким образом даже при нахождении исследуемого образца рядом с объектами поверхностного монтажа, контроль в коаксиальном свете остается возможен. Доступное увеличение микроскопа до 500 крат, рекомендуемое — от 10 до 200 крат.

Смотрите также:

Показать все
Электронная микроскопия

Электронная микроскопия

Статья рассчитана на специалистов, ранее не имевших опыт работы с электронным микроскопом. В ней рассмотрены…
Контроль толщины покрытий и упрочненного слоя

Контроль толщины покрытий и упрочненного слоя

Контроль толщины покрытий и упрочненного слоя выполняется с первичной подготовкой препарата. Из образца делает поперечный…
Минералогия и петрография

Минералогия и петрография

Минералогия и петрография - разделы науки, которые не обходятся без визуального наблюдения. Здесь необходимы визуальный…
Показать все
Подберем лабораторное оборудование для работы
Подберем лабораторное оборудование для работы
Закажите лабораторное оборудование указав контактные данные и мы с вами свяжемся в ближайшее время.

Этот сайт использует cookies.