Контроль разварки проволоки

При разварке проволоки между корпусом и контактными площадками кристалла требуется визуальный контроль. Обычно при этом используется металлографический микроскоп с увеличением до 200-500 крат и объективы с увеличенным рабочим расстоянием. Увеличенное рабочие расстояние очень важно, так как при использовании стандартных микроскопных объективов возникает возможность касания корпусом объектива корпуса изучаемого изделия. Особенно, если кристалл находится в сборке со смонтированными компонентами, как конденсаторы или различные SMD устройства.

Микроскоп можно оборудовать XY столом для точного перемещения изделий под микроскопом, либо перемещать изделия вручную, установив микроскоп на компактный штатив, показанный на фотографии ниже. В случае использования объективов с увеличенным рабочим расстоянием, можно добавить к конфигурации микроскопа осветитель типа «Гусиные шеи» для подсветки соединений со всех сторон и максимальной детализации объектов.

Для потокового контроля разварки проволоки, визуального контроля кристаллов, смонтированных в корпус применяется микроскоп ADF W300. Этот инспекционный микроскоп можно оснастить объективами с увеличенным рабочим отрезком вплоть до 30 мм. Таким образом даже при нахождении исследуемого образца рядом с объектами поверхностного монтажа, контроль в коаксиальном свете остается возможен. Доступное увеличение микроскопа до 500 крат, рекомендуемое — от 10 до 200 крат.