Инфракрасный термо-микроскоп ADF T10

Описание

ADF T10 — инструмент для анализа тепловых процессов

Инфракрасный микроскоп ADF T10 оптимизирован для теплового осмотра электронных плат и небольших компонентов на уровне чипа.
Система облегчает работу, позволяя одновременно проводить тестирование и радиометрические измерения.

Принцип работы инфракрасных термо-микроскопов

Микроскопы ADF серии T (termo) работают на основе регистрации инфракрасного излучения от объекта исследования. Основные компоненты прибора включают:

1. Инфракрасный детектор, улавливающий тепловое излучение.
2. Оптическая система с камерой, обеспечивающая отображение объекта и визуализацию тепловых излучений.
3. Программное обеспечение позволяющее строить тепловые карты, проводить общие и локальные измерения, настраивать фильтр и сигнализатор пределов регистрируемой температуры.

Объект помещается на предметный стол (можно использовать различные варианты – например, плавающий (дать ссылку на товар), а инфракрасный детектор сканирует его поверхность, фиксируя распределение температуры. Полученные данные отображаются в виде тепловых изображений, где цветовой градиент соответствуют температурному градиенту для удобства визуализации.
Тепловой микроскоп ADF T10 идеально подходит для инженеров, которым нужны данные о температуре небольших электронных устройств или микроэлектромеханических систем (МЭМС). Возможность видеть тепловые изменения и проводить измерения на небольших объектах зависит от разрешения детектора, а оптика фокусирует тепловую энергию от устройства на элементы детектора ИК-камеры. Это обеспечивает точные и надежные измерения температуры, необходимые для детального термического анализа миниатюрных компонентов.
Программное обеспечение включает инструменты для определения горячих и холодных точек, гистограммы, температурное профилирование, вычитание изображений и другие функции обработки тепловых изображений.

Области применения

• Материаловедение — изучение теплопроводности, обнаружение дефектов в материалах при нагревании
• Электроника — анализ теплового поведения микросхем, выявление «горячих точек» на печатных платах
• Нанотехнологии — изучение тепловых свойств наноструктур
• Энергетика — анализ тепловых характеристик солнечных элементов и батарей