Каталог товаров
Заказать звонок
Каталог
Артикул:

Темнопольные объективы Olympus для материаловедения

Темнопольные материаловедческие объективы Olympus скорректированы для работы в отраженном свете и позволяют получить изображение объектов в темном поле, светлом поле, ДИК контрасте и поляризации.

Уточнить стоимость Протестировать

Описание

Темнопольные материаловедческие объективы Olympus скорректированы на работу в отраженном свете и позволяют получать изображения объектов в темном поле, светлом поле, ДИК контрасте и поляризации.
В категории четыре серии:

  • MPLN-BD План ахромат для металлографической лаборатории
  • MPLFLN-BD План-флуорит (План-полуапохромат) для исследовательских систем
  • LMPLFLN-BD План-флуорит с увеличенным рабочим отрезком
  • MPLFLN-BD Поляризационные, свободные от внутренних напряжений

Темнопольные объективы для материаловедения (MPLN-BD, MPLFLN-BD и LMPLFLN-BD)

В зависимости от того, какие задачи планируется решать на микроскопе, стоит сконфигурировать набор объективов определенным образом. Для базовой оценки балла зерна сталей, контроля толщины упроченного слоя или покрытий подойдут план-ахроматы. В случае, если планируется работа с поляризацией и ДИК контрастом — необходимо устанавливать план-флуориты. В линейке MPLFLN есть объектив 150х, позволяющий получить максимальное разрешение микроструктуры шлифов и микроэлектронных компонентов.

MPLN-BD — План-ахроматы для материаловедения

План-ахроматическая серия для установки в металлографические и материаловедческие микроскопы. Поддерживает поле зрения FN22, работу в светлом поле, темном поле, простой поляризации и ДИК. Решение для рутинных металлографических исследований, изучения балла зерна, оценки неметаллических включений и др.

Увеличение Числовая апертура NA Рабочее расстояние, мм Дополнительная информация
MPLN5XBD 0,1 12
MPLN10XBD 10х 0,25 6,5
MPLN20XBD 20х 0,4 1,3 Подпружиненный
MPLN50XBD 50х 0,75 0,38 Подпружиненный
MPLN100XBD 100х 0,9 0,21 Подпружиненный

MPLFLN-BD — План-флуориты для светлого поля, темного поля и ДИК

Сконструированы для получения максимального разрешения в светлом поле, темном поле и дифференциально интерференционном контрасте, с коррекцией хроматических аберраций для получения детального изображения даже на периферии объектов. Позволяют использовать одну ДИК призму на всю линейку объективов. Поле зрения до FN 26,5.

Увеличение Числовая апертура NA Рабочее расстояние, мм
MPLFLN5XBD 0,15 12
MPLFLN10XBD 10х 0,3 6,5
MPLFLN20XBD 20х 0,45 3
MPLFLN50XBD 50х 0,8 1
MPLFLN100XBD 100х 0,9 1
MPLFLN150XBD 150х 0,9 1

LMPLFLN-BD — План-флуориты для светлого поля, темного поля и ДИК с увеличенным рабочим отрезком

Для изучения декорпусированных микросхем, металлов с возможным изменением топографии. Увеличенное рабочее расстояние позволяет отдалить поверхность исследуемого объекта от входного зрачка объектива. Это удобно для изучения микроэлектронных компонентов в корпусах, изучения проточек, пазов и канавок трения.
Поддерживают поле зрения до FN 26.5.

Увеличение Числовая апертура NA Рабочее расстояние, мм
LMPLFLN5XBD 0,13 15
LMPLFLN10XBD 10х 0,25 10
LMPLFLN20XBD 20х 0,4 12
LMPLFLN50XBD 50х 0,5 10,6
LMPLFLN100XBD 100х 0,8 3,3

MPLFLN-BDP — Поляризационные план-флуориты для светлого поля, темного поля и ДИК с увеличенным рабочим отрезком

Объективы для поляризационного и ДИК наблюдения. Отлично справляются с флуоресцентными изображениями, созданы для исследовательских поляризационных микроскопов на базе Olympus BX53P и BX53M.

Увеличение Числовая апертура NA Рабочее расстояние, мм
MPLFLN5XBDP 0,15 12
MPLFLN10XBDP 10х 0,25 6,5
MPLFLN20XBDP 20х 0,4 3
MPLFLN50XBDP 50х 0,75 1,0
MPLFLN100XBDP 100х 0,9 1,0

Характеристики

Подберем лабораторное оборудование для работы
Подберем лабораторное оборудование для работы
Закажите лабораторное оборудование указав контактные данные и мы с вами свяжемся в ближайшее время.

Этот сайт использует cookies.