Каталог товаров
Заказать звонок
Каталог
Артикул: ADF C250

Моторизованный инспекционный микроскоп ADF C250

Микроскоп для контроля кремниевых пластин, кристаллов в гель-паках. Моторизованный револьвер, качественная оптика, большое рабочее расстояние или объективы с высоким разрешением — все доступно.

Уточнить стоимость Протестировать

Описание Инспекционного микроскопа для микроэлектроники ADF C250

ADF C250 — моторизованный инспекционный микроскоп для контроля кремниевых пластин

Микроскоп C250 позволяет работать с кремниевыми пластинами диаметром до 8 дюймов. Версия C300 – до 12 дюймов. Удобная эргономика микроскопа с органами управления под предметным столом. Микроскоп обладает множеством аксессуаров, различными объективами из разных серий на выбор, тубусы прямого изображения с возможностью наклона окуляров, моторизованный револьвер и моторизованная апертурная диафрагма делают работу за микроскопом предельно комфортной.

Моторизованные компоненты

Моторизованный револьвер объективов управляется кнопками под предметным столом. Револьвер на 6 позиций. Это позволяет уменьшить запыленность пластины при работе с микроскопом – контролер ОТК не проводит манипуляций руками над пластиной. Для полной защиты от пыли доступен экран, предотвращающий попадания капель и пыли при дыхании.

ADF C250 - моторизованные компоненты микроскоп для микроэлектроники

Моторизованная апертурная диафрагма

Апертурная диафрагма моторизована и может запоминать установленные позиции для каждого объектива. Это удобно, при смене увеличения подстройка апертурной диафрагмы происходит автоматически для получения максимального разрешения микроскопа.

Менеджер света

Микроскоп запоминает настройки яркости в режиме светлого поля и темного поля для каждого объектива. Это крайне удобно, при переключении режимов наблюдения свет и апертурная диафрагма подстраиваются автоматически. Вы всегда можете скорректировать значения освещения используя кнопки на фронтальной панели или регулировочное колесо интенсивности света.

Держатель кремниевых пластин

Микроскоп может быть оснащен держателем кремниевых пластин либо высокоточным стеклом для работы с гель-паками, ячейками, или специальными держателями. Держатель кремниевых пластин позволяет проводить установку и снятие пластины пинцетом практически моментально.

Держатель кремниевых пластин, микроскоп для кремниевых пластин

ADF C250 – высококачественная оптика, тубус прямого изображения

Микроскоп ADF C250 поддерживает все линейки объективов ADF. Доступны объективы с увеличенным рабочим расстоянием или увеличенной числовой апертурой. Объективы обладают выдающимся разрешением до 0,3 мкм. Тубусы прямого изображения позволяют работать с топологией микросхем, выводя качество контроля на новый уровень.

Микроскоп ADF U300M, Д-микро

Характеристики Инспекционного микроскопа для микроэлектроники ADF C250

Оптическая схема Скорректированная на бесконечность
Тубус Прямого изображения.
Поле зрения до FN 26.5, доступны варианты с наклонным тубусом, либо с тубусом фиксированного угла наклонов
Стол микроскопа С механизмом быстрого перемещения, размер стола 8″ (Версия ADF C300 отличается размером стола до 12″).
Держатель пластин Стекло высокоточное, либо держатель кремниевых пластин 4, 6, 8″
Цифровая камера Подключение любой цифровой камеры ADF (рекомендована Ultra 09 c Global Shutter для получения высококачественного 4К изображения со скоростью до 60 кадров в секунду)
Режимы контрастирования Светлое поле, темное поле, поляризация. Опционально — ДИК
Моторизованные компоненты Моторизованный револьвер объективов, смена освещения и апертурная диафрагма
Реестр СИ Прибор внесен в реестр СИ как программно-аппаратный комплекс измерительный (с камерой, ПК и программным обеспечением)
Объективы 5х, 10х, 20х, 50х, 100х — план ахроматы или план флуориты (полу-апохроматы) с высоким разрешением либо с увеличенным рабочим отрезком
Подберем лабораторное оборудование для работы
Подберем лабораторное оборудование для работы
Закажите лабораторное оборудование указав контактные данные и мы с вами свяжемся в ближайшее время.

Этот сайт использует cookies.