Высокоточный предметный стол ADF MC Stage
Высокоточный предметный стол ADF MC Stage размером 150х150 мм с микрометрическими датчиками для установки на штатив стереомикроскопа. Точность измерения 1 мкм, диапазон измерения 30х30 мм. Поворотная верхняя плита для удобства позиционирования детали на предметном столе. Возможность работы в проходящем и отражённом свете.
- Категория:
- Производитель: ADF
- Метка: Микроскопы ADF,Столик,ADF MC Stage,MC Stage
Описание
Высокоточный предметный стол ADF MC Stage
Механический измерительный столик позволяет значительно повысить эффективность и удобство работы со стереомикроскопом благодаря точному перемещению образцов и предотвращению их случайного переворачивания во время манипуляций руками или инструментами. За счёт круглой стеклянной пластины функциональность штатива не снижается — можно использовать встроенный осветитель проходящего света. Образец при необходимости фиксируется с помощью специальных зажимов, а с помощью ручки осуществляется поворот пластины вместе с препаратом.
Взаимно перпендикулярные цифровые микрометрические винты позволяют с высокой точностью (1 мкм) контролировать величину сдвига объекта по осям X и Y. В любой момент микрометры можно обнулить для начала нового отсчёта. Для удобства отсчёт отображается в миллиметрах или дюймах. Благодаря данной модернизации штатива, для пользователя будет полностью раскрыт потенциал программного обеспечения, если также установлена цифровая камера (например, из линейки ADF). Так, будет доступна съёмка видео и панорамная сшивка крупных объектов, поскольку столик обеспечивает точное позиционирование и плавное передвижение.
Характеристики
Размер столика | 150 (X) x 150 (Y) мм |
Диаметр стеклянной пластины | 100 мм |
Диапазон перемещения | 30 (X) x 30 (Y) мм |
Диаметр соединения | 95 мм |
Точность микрометра | 1 мкм |

