Микроскоп для материаловедения Olympus BX53M

Описание

Olympus BX53M — исследовательский микроскоп для материаловедения

Прямой исследовательский микроскоп Olympus BX53M, предназначен для исследований в материаловедческой лаборатории. Идеальная система для работы с микроэлектронными компонентами небольшого размера, залитыми шлифами, минералами, полимерами и металлами. Полностью универсальная система со всеми функциями металлографии по методикам светлого поля, темного поля, дифференциоально-интерференционного контраста и поляризации.

• Модульная конструкция.
• Работа в отраженном и, опционально, проходящем свете
• Методики контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, ДИК
• Возможна установка промежуточного модуля увеличения (2х), моторизированного револьвера объективов и фильтров
• Высококачественная UIS оптика
• Увеличение от 12,5х до 1500х. Можно повысить этот показатель, используя промежуточный тубус оптовар.
• Различные тубусы, в том числе эргономичные и поворотные тринокулярные тубусы
• Возможность подключения фотокамеры через порт тринокулярного тубуса.
• Предметный столик с металлической пластиной для точного перемещения образцов в плоскости XY.

Эргономика и комфорт

Микроскоп Olympus BX53M позволяет проводить исследования в режимах светлого поля, темного поля, Дифференциально-интерференционного контраста Номарского и простом поляризованном свете. Переключение между методиками контрастирования производится путем поворота турели рефлекторных модулей, расположенной под рукой оператора. Для каждой методики наблюдения в турель модулей необходимо устанавливать рефлекторный кубик.

Методика контрастирования в отраженном свете выбирается поворотной ручкой справа на турели рефлекторных модулей. Доступны режимы светлого поля, темного поля, поляризации и ДИК контраста. Для реализации ДИК контраста, ДИК слайдер U-DICR должен быть установлен в слот револьвера объективов микроскопа (на левом рисунке внизу). Слайдер универсальный для всех объективов. Нет необходимости приобретать ДИК призмы для каждого объектива отдельно – слайдер подойдет ко всем сразу.

Широкое разнообразие дополнительных модулей легко подсоединяемых к BX53M, позволяют конструировать систему исходя из задач пользователей: соединение с цифровой фото или видеокамерой через тринокуляр с адаптером, модуль промежуточного увеличения под тубусом с кратностью 1,6х или 2х. Микроскоп BX53M разработан для длительных исследований, его дизайн полностью отвечает требованиям максимального удобства для оператора.

Микроскопы серии BX являются эргономичными, надежными прямыми микроскопами, специально сконструированными для выполнения всех контрольно-измерительных задач в материаловедении и решения задач испытаний материалов в целом, для входного контроля образцов, контроля готовой продукции, выборочной проверки в технологическом процессе.

Все микроскопы серии BX53 – модульной конструкции, которая позволяет пользователю легко скомбинировать модификацию, необходимую для решения стоящих перед ним задач. Превосходная технологичность и эргономика микроскопов BX53 дарит пользователю не только повышенную точность и достоверность результатов исследования, но также комфорт работы и управления системой. Все органы управления, в том числе полевая (FS) и апертурная (AS) диафрагмы, фокусировка и регулировка освещения сбалансированы и находятся под рукой у пользователя.

Olympus BX53M – методики контрастирования, комбинация методик – MIX режим

Микроскоп Олимпус BX53M позволяет проводить исследования металлографических шлифов, шлифов композитных материалов, анализ корпусов микроэлектронных изделий, контроль полупроводников, срезов и пленок. На микроскопе можно проводить оценочные измерения балла зерна сталей, поиск неметаллических включений, изучение упрочненного слоя, анализ графита в чугуне и пр. Поддерживаются следующие методики контрастирования:

• Светлое поле. Изучение освещенного объекта в отраженном свете. Анализ зерен материалов, изучение неметаллических включений. Изучение структуры фильтров, пористости материалов и пр.
• Темное поле. Освещение объекта косопадающим светом вокруг исследуемой области. Любые дефекты поверхности, царапины и микронеровности становятся детально различимы.
• Простая поляризация. Изучение объектов в скрещеных николях (поляризатор и вращаемый анализатор). Поиск оптически активных объектов на шлифах, загрязнений, полимеров и пр.
• ДИК (Дифференциально-интерференционный контраст). Методика контрастирования, применяющаяся для анализа микрорельефа поверхности и подчеркивания границ зерен и структур материала.

Микроскоп оборудованный опциональной системой MIX позволяет демонстрировать в окуляре комбинацию методик контрастирования (светлое поле + темное поле) получая композицию из четко проработанной светлопольной картинки и резких границ микронеровностей видимых только в темном поле.

Шлиф силумина (AlSi). Светлое поле BF и темное поле DF. Светлое поле используется для получения общей информации о структуре объекта, а темное поле показывает мельчайшие дефекты, царапины и микронеровности, невидимые глазом в светлом поле.	Чугун с шаровидным графитом. DIC – дифференциально-интерференционный контраст – это методика наблюдения, при которой рельеф поверхности невидимый в светлом поле начинает играть красками и походить на трехмерное изображение объекта. Это идеальный метод для исследования объектов с неоднородной топографией, включая металлографические структуры и минералы.
Алюминиевый сплав. Поляризационная микроскопия позволяет визуализировать текстуру материала и кристаллическую форму максимально контрастно. Поляризация широко применима для изучения металлографических структур, таких как чугун, паттерны с ростом графита и минералы.	Микроэлектронный компонент – поперечный шлиф. MIX режим, т.е. комбинация светлого и темного поля позволят наблюдать цвет и структуру объекта. Такой метод наблюдения позволяет очень четко воспроизвести цвет и структуру изделия, как и качество прилегания металлизированных и полимерных слоев.

Поляризационный микроскоп Olympus BX53P

Штатив Olympus BX53 позволяет реализовать исследовательскую поляризационную систему Olympus BX53P – микроскоп для ортоскопического и коноскопического наблюдения. Система с круглым столом, линзой бертрана и поляризаторами с высокоточным позиционированием. У микроскопа Olympus BX53P своя линейка объективов свободных от внутренних напряжений. Подробнее о модели на нашем сайте – Olympus BX53P.

Подключите камеру

Подключите к микроскопу цифровую камеру, например, ADF Ultra09. Получайте высококачественные изображения, проводите измерения, экспортируйте результаты измерений в электронную таблицу.