Каталог товаров
Заказать звонок
Каталог
Современные измерительные микроскопы

Современные измерительные микроскопы

Современные измерительные микроскопы работают с объектами вплоть до нескольких нанометров. Использование интерферометров и высокоточных оптических устройств постоянно расширяет возможности измерительной микроскопии. Точные геометрические измерения при решении задач контроля качества изделий играют важную роль в производстве и качестве выпускаемой продукции. Для работы с большими объектами, такими как кузова автомобилей, сложными детали реактивных двигателей и прочими высокотехнологичными изделиями применяются координатно-измерительные машины, лазерные датчики и высокоточные механические измерительные приборы. Но что же делать, когда измеряемые объекты находятся в микронном и субмикронном диапазонах? Необходимо прибегнуть к помощи измерительных систем, основанных на базе световых микроскопов, интерферометров или конфокальных лазерных профилометрах.

В статье мы рассмотрим возможность и методики проведения плоскостных и пространственных измерений с использованием различных типов оптических микроскопов.

Плоскостные или 2D измерения.

Существует несколько методов проведения 2D измерений на измерительном микроскопе. Рассмотрим их последовательно.

Простые системы с окуляр-микрометром и объект-микрометром.

Такие системы появились задолго до эпохи появления цифровых камер и являются самыми примитивными методами оценочного сравнения размера эталонного микрометра и измеряемого объекта при помощи шкалы в окуляре. Точность здесь напрямую зависит от оператора, погрешность при таком методе измерения определяется исключительно человеческим фактором.

Современные измерительные микроскопы
Стандартный объект-микрометр для работы с лабораторным измерительным микроскопом.
Современные измерительные микроскопы
При калибровке оптического микроскопа важно четко сопоставить шкалу окуляра с эталоном. В примере 8 полных делений шкалы окуляра соответствуют 0,45 мм. Таким образом, каждое полное деление шкалы окуляра равно 0,056 мм или 56 мкм.

Системы измерения с координатными столами.

VE Hawk, D-micro

Координатные микроскопы применяются в случаях, когда необходимо произвести измерение с высокой точностью, но объект не попадает в одно поле зрения микроскопа. Пользователь совмещает перекрестие в окуляре с началом измеряемого отрезка и, далее, перемещая лимбы XY стола, добивается совмещения перекрестия с концом измеряемого отрезка. Значения на лимбах (либо на высокоточных линейных датчиках перемещения стола) показывают разницу X и Y координат. Длина отрезка, если это необходимо, вычисляется по теореме Пифагора. Такой метод позволяет использовать микроскоп лишь для точного позиционирования объекта измерения. Погрешность оператора сводится к минимуму, а измерение производится электронными или механическими устройствами.

Современные измерительные микроскопы
Измерительный координатный цифровой предметный столик. Может быть установлен на любой микроскоп, имеющий в окуляре сетку, перекрестие или визир.

Системы измерения с цифровой камерой или цифровые микроскопы.

Анализ цифрового изображения решает все недостатки предыдущих методов. Погрешность оператора сведена к минимуму, а главное, появляется возможность измерения не только длин отрезков, но и диаметров окружностей, углов, площадей, расстояний между параллельными линиями и так далее.

При работе с измерительным программным обеспечением микроскоп калибруется пользователем с использованием сертифицированного эталона. При дальнейшей работе калибровки по объект-микрометру не требуются. Программное обеспечение присваивает масштаб изображению исходя из первоначальных калибровок. Программа может корректировать опорные точки, поставленные пользователем, находя зону максимального контраста. Таким образом используя цифровые инструменты точность и скорость измерений стремительно растет.

Современные измерительные микроскопы
Цифровой измерительный микроскоп Keyence VHX-5000 раскрывает новые метрологические возможности микроскопии.

Система Keyence VHX-5000, программное обеспечение которой показано в иллюстрациях, является «эталоном» цифровой измерительной микроскопии.

Вы всегда можете превратить свой микроскоп в современную измерительную систему произведя модернизацию микроскопа и установив на него современную цифровую камеру с программным обеспечением. Подробно об этом вы можете узнать в разделе модернизация микроскопов пользователя на нашем сайте.

Трехмерные измерения в пространстве (3D). Получение профиля поверхности объекта.

Получение математической модели профиля поверхности исследуемого образца – сложная задача. Она сводится к последовательному измерению координат (XYZ) точек, расположенных на образце с заданным шагом. Как и любую сложную задачу, построение профиля можно разбить на несколько этапов.
Первый этап – получение координаты точки по оси Z (определение высоты точки).

  • Грубое определение разности высот возможно на микроскопах с градуированным винтом точной фокусировки. Погрешность при таком измерении огромна, измерение носит чисто ориентировочный характер. Пользователь фокусируется на объекте, относительно которого будет производиться измерение, затем запоминает положение винта точной фокусировки микроскопа. Далее пользователь фокусируется в измеряемой точке. Разница в значениях лимба винта умножается на шаг винта (к примеру, 1мкм/деление). Полученное значение будет разностью координаты. Как вы понимаете, при таком измерении необходимо учитывать полные обороты винта точного фокуса, а также направление вращения винта. Повторимся, что такое измерение носит чисто ориентировочный характер, точность которого крайне зависит от увеличения микроскопа, глубины резкости объектива и шага привода фокусировки по оси Z.
Современные измерительные микроскопы
Вне зависимости от типа микроскопа практически все качественные модели микроскопов снабжены коаксиальным винтом грубой и точной фокусировки. Необходимо учитывать, что чем меньше увеличение, тем больше глубина резкости системы и тем больше погрешность измерения координаты Z.
  • Микроскопы с моторизованным приводом фокусировки по оси Z позволяют проводить измерения схожим образом. Программное обеспечение микроскопа создает Z-стек изображений – послойное сканирование образца. Далее автоматически выбираются области с наибольшей контрастностью (зоны резкости) и изображение разбивается на сетку. В каждой точке сетки рассчитывается координата Z и формируется готовое 3-D изображение или математическая модель для последующей работы с ней.
Современные измерительные микроскопы
Формирование трехмерного изображения, используя моторизованный привод фокусировки цифрового микроскопа Keyence VHX-5000
  • Бесконтактные профилометры и конфокальные микроскопы.
Современные измерительные микроскопы
Результат измерения микропрофиля детали. Цвета характеризуют карту высот. Максимальная высота профиля составляет всего 0,2 мкм

В отличии от предыдущих вариантов, системы профилометрии разрабатываются именно с целью измерения профиля объекта. Они позволяют проводить измерения с невероятно высокой точностью (около 5 нм по оси Z). Принцип таких систем основан на интерферометрии эталонного луча с известной длиной пути и луча, отраженного от поверхности объекта. По смещению фазы рассчитывается разница в расстоянии между двумя лучами. Таким образом прибор определяет Z координату объекта.

Современные измерительные микроскопы
Программное обеспечение конфокального профилометра на первый взгляд кажется сложным, но на самом деле является удобным инструментом получением качественных результатов измерения.

Измерительные микроскопы в нашем каталоге

Последние публикации

Показать все
Как проводить измерения на микроскопе? Часть 2
Как проводить измерения на микроскопе? Часть 2
2. Измерение линейных размеров с помощью окулярного винтового микрометра. Эта статья - вторая часть статьи…
Как проводить измерения на микроскопе? Часть 1
Как проводить измерения на микроскопе? Часть 1
Содержание 1. Измерения на микроскопе линейных размеров с помощью штриховой пластины в окуляре (окулярного микрометра).…
Поляризация света. Поляризационная микроскопия
Поляризация света. Поляризационная микроскопия
Поляризационная микроскопия, описание методики. Солнце и практически все искусственные источники света излучают световые волны, векторы…
Показать все
Подберем лабораторное оборудование для работы
Подберем лабораторное оборудование для работы
Закажите лабораторное оборудование указав контактные данные и мы с вами свяжемся в ближайшее время.

Этот сайт использует cookies.